References

1. 1. Bennetts R.G. Design of Testable Logic Circuits. Addison-Wesley Publishing Company, 1984. 164 p.
2. 2. Согомонян Е.С., Слабаков Е.В. Самопроверяемые устройства и отказоустойчивые системы. М.: Радио и связь, 1989. 208 с.
3. 3. Drozd A., Kharchenko V., Antoshchuk S., et. al. Checkability of the Digital Components in Safety-Critical Systems: Problems and Solutions // Proceedings of 9th IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS’2011), Sevastopol, Ukraine, 2011. P. 411-416. https://doi.org/10.1109/EWDTS.2011.6116606
4. 4. Дрозд А.В., Харченко В.С., Антощук С.Г. и др. Рабочее диагностирование безопасных информационно-управляющих систем. Под ред. А.В. Дрозда, В.С. Харченко. Харьков: Нац. аэрокосм. ун-т им. Н.Е. Жуковского ≪ХАИ≫, 2012. 614 с.
5. 5. Сапожников В.В., Сапожников Вл.В. Самопроверяемые дискретные устройства. СПб.: Энергоатомиздат, 1992. 224 с.
6. 6. Аксёнова Г.П. Восстановление в дублированных устройствах методом инвертирования данных // АиТ. 1987. № 10. С. 144–153.
7. 7. Шалыто А.А. Модули, универсальные в классе самодвойственных функций и в ≪близких≫ к ним классах // Известия Академии наук. Теория и системы управления. 2001. № 5. С. 110–120.
8. 8. Saposhnikov Vl.V., Dmitriev A., Goessel M., Saposhnikov V.V. Self-Dual Parity Checking a New Method for on Line Testing // Proceedings of 14th IEEE VLSI Test Symposium, USA, Princeton, 1996. P. 162–168. https://doi.org/10.1109/VTEST.1996.510852
9. 9. Гессель М., Мошанин В.И., Сапожников В.В., Сапожников Вл.В. Обнаружение неисправностей в самопроверяемых комбинационных схемах с использованием свойств самодвойственных функций // АиТ. 1997. № 12. С. 193–200.
10. 10. Гессель М., Дмитриев А.В., Сапожников В.В., Сапожников Вл.В. Самотестируемая структура для функционального обнаружения отказов в комбинационных схемах // АиТ. 1999. № 11. С. 162–174.
11. 11. Dmitriev A., Saposhnikov V., Saposhnikov V., Goessel M. New Self-Dual Circuits for Error Detection and Testing // VLSI Design. 2000. Vol. 11. Issue 1. P. 1–21. https://doi.org/10.1155/2000/84720
12. 12. Сапожников В.В., Сапожников Вл.В., Гессель М. Самодвойственные дискретные устройства. СПб.: Энергоатомиздат (Санкт-Петербургское отделение), 2001. 331 с.
13. 13. Сапожников В.В., Сапожников Вл.В., Валиев Р.Ш. Синтез самодвойственных дискретных систем. СПб.: Элмор, 2006, 220 с.
14. 14. Goessel M., Ocheretny V., Sogomonyan E., Marienfeld D. New Methods of Concurrent Checking: Edition 1. Dordrecht: Springer Science+Business Media B.V., 2008. 184 p.
15. 15. Яблонский С.В. Введение в дискретную математику. Под ред. В.А. Садовничева. М.: Высш. шк. 2003. 384 с.
16. 16. Ефанов Д.В., Погодина Т.С. Исследование свойств самодвойственных комбинационных устройств с контролем вычислений на основе кодов Хэмминга // Информатика и автоматизация. 2023. Том 22. № 2. C. 349–392. https://doi.org/10.15622/ia.22.2.5
17. 17. Ефанов Д.В. Особенности реализации самопроверяемых структур на основе метода инвертирования данных и линейных кодов // Вест. Том. гос. ун-та. Управление, вычислительная техника и информатика. 2023. № 65. С. 126–138. https://doi.org/10.17223/19988605/65/13
18. 18. Sellers F.F., Hsiao M.-Y., Bearnson L.W. Error Detecting Logic for Digital Computers. New York: McGraw-Hill, 1968. XXI+295 p.
19. 19. Efanov D., Plotnikov D., Sapozhnikov V., Sapozhnikov Vl., Abdullaev R. Experimental Studies of Polynomial Codes in Concurrent Error Detection Systems of Combinational Logical Circuits // Proceedings of 16th IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS’2018), Kazan, Russia, September 14–17, 2018. P. 184–190. https://doi.org/10.1109/EWDTS.2018.8524684
20. 20. Abdullaev R., Efanov D. Polynomial Codes Properties Application in Concurrent Error-Detection Systems of Combinational Logic Devices // Proceedings of 19th IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS’2021), Batumi, Georgia, September 10–13, 2021, pp. 40–46. https://doi.org/10.1109/EWDTS52692.2021.9580992
21. 21. Ефанов Д.В., Пивоваров Д.В. Организация контроля вычислений на выходах самодвойственных цифровых устройств с применением циклических избыточных кодов // Матер. XIV Всероссийского совещания по проблемам управления (ВСПУ-2024) под ред. акад. Д.А. Новикова, М., 17–20 июня 2024 г., c. 2395–2399.
22. 22. Efanov D.V., Pivovarov D.V. The Hybrid Structure of a Self-Dual Built-In Control Circuit for Combinational Devices with Pre-Compression of Signals and Checking of Calculations by Two Diagnostic Parameters // Proceedings of 19th IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS’2021), Batumi, Georgia, September 10–13, 2021, c. 200–206. https://doi.org/10.1109/EWDTS52692.2021.9581019
23. 23. Lala P.K. Self-Checking and Fault-Tolerant Digital Design. San Francisco: Morgan Kaufmann Publishers, 2001. 216 p.
24. 24. Sahana A.R., Chiraag V., Suresh G., Thejaswini P., Nandi S. Application of Error Detection and Correction Techniques to Self-Checking VLSI Systems: An Overview // Proceedings of 2023 IEEE Guwahati Subsection Conference (GCON), Guwahati, 2023. https://doi.org/10.1109/GCON58516.2023.10183449
25. 25. Ефанов Д.В., Пивоваров Д.В. Тестеры самодвойственных и ≪близких≫ к ним сигналов // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. 2024. Т. 67. № 1. С. 5–19. https://doi.org/10.17586/0021-3454-2024-67-1-5-19
26. 26. Коршунов А.Д. Сложность вычислений булевых функций // Успехи математических наук. 2012. Том 67. № 1 (403). С. 97–168. https://doi.org/10.4213/rm9459